Fabien Houeto, Samuel Pierre
, Ronald Beaubrun, Yves Lemieux
Article de revue (2002)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie informatique
Département:
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Reliability
(
vol.
51
,
no
2
)
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:26570
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:20
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:02
Citer en APA 7:
Houeto, F., Pierre, S., Beaubrun, R., & Lemieux, Y. (2002). Reliability and cost evaluation of third-generation wireless access network topologies: a case study. IEEE Transactions on Reliability, 51(2), 229-239. https://doi.org/10.1109/tr.2002.1011530
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