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Améliorer la testabilité et les tests des systèmes à l'aide des patrons

Aminata Sabane

Technical Report (2010)

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Résumé

Les activités de test sont très complexes et coûteuses mais elles restent cependant le moyen le plus répandu pour assurer la fiabilité des systèmes et augmenter notre confiance en eux. De nombreux travaux ont pour objectif la réduction de ces coûts et de cette complexité à travers diverses approches : critères de test plus efficaces, automatisation des activités de tests, augmentation de la testabilité. Cette dernière approche est intensivement explorée car pour de nombreux chercheurs, la testabilité peut permettre de réduire significativement les coûts de test surtout si elle est évaluée et exploitée tôt dans le cycle de développement du logiciel notamment à la phase de conception. C'est dans ce domaine très actif des conceptions testables que s'inscrit notre projet de recherche. Ce projet vise à contribuer à réduire les coûts de test et en augmenter l'efficacité en exploitant les microarchitectures, telles que les patrons de conceptions et les anti-patrons. Ces microarchitectures existent largement dans les systèmes orientés objets et sont reconnus comme ayant un impact sur plusieurs attributs de qualité. Notre objectif est donc, à travers ce projet de recherche et la méthodologie proposée dans le présent document, d'étudier l'impact des microarchitectures sur la testabilité des systèmes, d'exploiter les résultats de cette étude pour améliorer la testabilité des conceptions mais aussi exploiter directement les microarchitectures dans la phase de test.
Subjects: 2700 Information technology > 2700 Information technology
2700 Information technology > 2705 Software and development
2700 Information technology > 2706 Software engineering
Department: Department of Computer Engineering and Software Engineering
PolyPublie URL: https://publications.polymtl.ca/2657/
Report number: EPM-RT-2010-08
Date Deposited: 06 Oct 2017 14:07
Last Modified: 08 Nov 2022 11:13
Cite in APA 7: Sabane, A. (2010). Améliorer la testabilité et les tests des systèmes à l'aide des patrons (Technical Report n° EPM-RT-2010-08). https://publications.polymtl.ca/2657/

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