S. A. Hashemi, R. Sahraian, Pierre Lafleur
et K. Stoeffler
Article de revue (2006)
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| Département: | Département de génie chimique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/22994/ |
| Titre de la revue: | Iranian Polymer Journal (vol. 15, no 7) |
| URL officielle: | http://www.sid.ir/En/Journal/ViewPaper.aspx?ID=480... |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:17 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:07 |
| Citer en APA 7: | Hashemi, S. A., Sahraian, R., Lafleur, P., & Stoeffler, K. (2006). Focus Ion Beam Preparation of Transmission Electron Microscope Sample in Polymer Clay Nanocomposite. Iranian Polymer Journal, 15(7), 539-545. http://www.sid.ir/En/Journal/ViewPaper.aspx?ID=48006 |
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