S. A. Hashemi, R. Sahraian, Pierre Lafleur
, K. Stoeffler
Article de revue (2006)
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Département:
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Titre de la revue
:
Iranian Polymer Journal
(
vol.
15
,
no
7
)
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:22994
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:17
Dernière modification:
14 oct. 2026 12:56
Citer en APA 7:
Hashemi, S. A., Sahraian, R., Lafleur, P., & Stoeffler, K. (2006). Focus Ion Beam Preparation of Transmission Electron Microscope Sample in Polymer Clay Nanocomposite. Iranian Polymer Journal, 15(7), 539-545. http://www.sid.ir/En/Journal/ViewPaper.aspx?ID=48006
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