Ludvik Martinu
, J.-P. Masse, H. Szymanowski, O. Zabeida, A. Amassian et Jolanta-Ewa Sapieha
Article de revue (2006)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/22771/ |
| Titre de la revue: | Thin Solid Films (vol. 515, no 4) |
| Maison d'édition: | Elsevier |
| DOI: | 10.1016/j.tsf.2006.05.047 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1016/j.tsf.2006.05.047 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:17 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:07 |
| Citer en APA 7: | Martinu, L., Masse, J.-P., Szymanowski, H., Zabeida, O., Amassian, A., & Sapieha, J.-E. (2006). Stability and effect of annealing on the optical properties of plasma-deposited Ta₂O₅ and Nb₂O₅ films. Thin Solid Films, 515(4), 1674-1682. https://doi.org/10.1016/j.tsf.2006.05.047 |
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