T. Erkan, J. R. René Mayer et A. Wozniak
Article de revue (2011)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie mécanique |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/16928/ |
Titre de la revue: | International Journal of Advanced Manufacturing Technology (vol. 55, no 1-4) |
Maison d'édition: | Springer |
DOI: | 10.1007/s00170-010-3046-z |
URL officielle: | https://doi.org/10.1007/s00170-010-3046-z |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:12 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 15:54 |
Citer en APA 7: | Erkan, T., Mayer, J. R. R., & Wozniak, A. (2011). Surface probing simulator for the evaluation of CMM probe radius correction software. International Journal of Advanced Manufacturing Technology, 55(1-4), 307-315. https://doi.org/10.1007/s00170-010-3046-z |
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