M. 'Hmed Sahnoun, Belgacem Bettayeb, Michel Tollenaere, Samuel Bassetto
Communication écrite (2012)
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Département:
ISBN:
9781467307505
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE International Systems Conference
Lieu de la conférence:
Vancouver, BC, Canada
Date(s) de la conférence:
2012-03-19 - 2012-03-22
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:14679
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:11
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:15
Citer en APA 7:
Sahnoun, M. , Bettayeb, B., Tollenaere, M., & Bassetto, S. (mars 2012). Smart sampling for risk reduction and delay optimisation [Communication écrite]. IEEE International Systems Conference, Vancouver, BC, Canada. https://doi.org/10.1109/syscon.2012.6189485
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