M. 'Hmed Sahnoun, Belgacem Bettayeb, Michel Tollenaere et Samuel Bassetto
Communication écrite (2012)
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| Département: | Département de mathématiques et de génie industriel |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/14679/ |
| Nom de la conférence: | IEEE International Systems Conference |
| Lieu de la conférence: | Vancouver, BC, Canada |
| Date(s) de la conférence: | 2012-03-19 - 2012-03-22 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/syscon.2012.6189485 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/syscon.2012.6189485 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:11 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 10:55 |
| Citer en APA 7: | Sahnoun, M. , Bettayeb, B., Tollenaere, M., & Bassetto, S. (mars 2012). Smart sampling for risk reduction and delay optimisation [Communication écrite]. IEEE International Systems Conference, Vancouver, BC, Canada. https://doi.org/10.1109/syscon.2012.6189485 |
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