Christophe Dolabdjian, Basile Dufay, Sebastien Saez, Arthur Yelon
et David Ménard
Communication écrite (2013)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/12458/ |
| Nom de la conférence: | 3rd International Conference on Materials and Applications for Sensors and Transducers (IC-MAST 2013) |
| Date(s) de la conférence: | 2013-09-13 - 2013-09-17 |
| Titre de la revue: | Key Engineering Materials (vol. 605) |
| Maison d'édition: | Trans Tech Publications Ltd. |
| DOI: | 10.4028/www.scientific.net/kem.605.437 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.605... |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:08 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 15:49 |
| Citer en APA 7: | Dolabdjian, C., Dufay, B., Saez, S., Yelon, A., & Ménard, D. (septembre 2013). Is low frequency excess noise of GMI induced by magnetization fluctuations? [Communication écrite]. 3rd International Conference on Materials and Applications for Sensors and Transducers (IC-MAST 2013). Publié dans Key Engineering Materials, 605. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.605.437 |
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