Shuai Xie, Foutse Khomh, Ying Zou, Iman Keivanloo
Communication écrite (2014)
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Département:
ISBN:
9781479937523
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE Conference on Software Maintenance, Reengineering, and Reverse Engineering (CSMR-WCRE 2014)
Lieu de la conférence:
Antwerp, Belgium
Date(s) de la conférence:
2014-02-03 - 2014-02-06
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:11398
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:09
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:11
Citer en APA 7:
Xie, S., Khomh, F., Zou, Y., & Keivanloo, I. (février 2014). An empirical study on the fault-proneness of clone migration in clone genealogies [Communication écrite]. IEEE Conference on Software Maintenance, Reengineering, and Reverse Engineering (CSMR-WCRE 2014), Antwerp, Belgium. https://doi.org/10.1109/csmr-wcre.2014.6747229
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