Documents dont l'auteur est "Leeuwen, Ton Gvan"

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Attendu, X., Bloemen, P. R., Kind, N. H., de Bruin, D. M., Faber, D. J., Boudoux, C., & Leeuwen, T. G. (mars 2021). Combined optical coherence tomography and broadband single fiber reflectance spectroscopy [Présentation]. Dans SPIE BiOS 2021. Lien externe

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