Thierry M. Lavoie et Ettore Merlo
Rapport technique (2011)
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Abstract
This paper presents an original technique for clone detection with metric trees using Levenshtein distance as the metric defined between two code fragments. This approach achieves a faster empirical performance. The resulting clones may be found with varying thresholds allowing type 3 clone detection. Experimental results of metric trees performance as well as clone detection statistics on an open source system are presented and give promising perspectives.
| Sujet(s): |
2700 Technologie de l'information > 2705 Logiciels et développement 2700 Technologie de l'information > 2706 Génie logiciel |
|---|---|
| Département: | Département de génie informatique et génie logiciel |
| Organismes subventionnaires: | CRSNG/NSERC |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/2638/ |
| Numéro du rapport: | EPM-RT-2011-01 |
| Date du dépôt: | 06 oct. 2017 13:37 |
| Dernière modification: | 16 avr. 2024 07:14 |
| Citer en APA 7: | Lavoie, T. M., & Merlo, E. (2011). Levenshtein edit distance-based type III clone detection using metric trees. (Rapport technique n° EPM-RT-2011-01). https://publications.polymtl.ca/2638/ |
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